Chiller ZC209是一台对循环液进行温度控制并输出冷热液的装置。具有温度稳定性高、温度范围广、故障自诊断、外部通信等丰富功能。

“AEC-Q”是汽车电子协会组件技术委员会制定的一系列汽车电子零部件可靠性测试标准的统称。

中冷低温自主研发的HAST高加速寿命试验箱，专为HTOL配套设计，满足车规级可靠性验证全需求。

高低温卡盘系统是解决高功率密度散热难题的关键技术，其高效、精准、可靠的特点使其成为半导体、先进制造等领域的核心装备。

对于电子实验室的环境温湿度，RB/T 047-2020 《检验检测机构管理和技术能力评价 设施和环境通用要求》里面对实验室的温湿度确实有规定（6.2.1 环境温度16-26℃，相对湿度30%-65%），但是这个标准是针对整个行业的，没有考虑电子实验室的特殊性。

在可靠性工程领域，寿命加速模型是预测产品寿命的关键工具。通过合理选择加速模型，可将传统耗时数年的寿命试验缩短至几周，显著提升研发效率。

“85/85”组合其实是行业长期经验和标准共识的产物，有其科学和工程上的合理性。

后硅芯片测试方法是指在芯片封装完成后进行的测试，旨在检测芯片的功能、性能和可靠性。