HAST测试是一种用于评估产品在高温、高湿以及高压条件下的可靠性和寿命的测试方法。

系统级测试（SLT）是指在仿真的终端使用场景中对待测芯片（DUT）进行测试。

芯片HAST测试是一种用于评估产品在高温、高湿以及高压条件下的可靠性和寿命的测试方法。

ZONGLEN 热流仪可兼容市面上各品牌光学检测设备，完成再电高低温环境下的光学性能测试，是光学检测设备必不可少的组成之一。

常见的非恒定应力谱和组合应力包括：步进应力试验；渐进应力试验； 高加速寿命试验（HALT）（设备级）；高加速应力筛选（HASS）（设备级）；高加速温度和湿度应力试验（HAST）（零件级）。

光模块作为光通信中的重要组成部分，是实现光信号传输过程中光电互相转换的光电子器件。光模块通常由光发射组件、光接收组件、激光器芯片、探测器芯片等部件组成。

在划片之前必须经过的CP芯片测试，一方面验证IC各项参数及功能是否达到设计要求，另一方面把参数或功能失效的IC从中标示出来

随着IC产业的飞速发展，其中测试的精确度及稳定性是两大难题，尤其在量产ATE测试时表现更为严重。