CP测试现场通常由三类核心设备构成：ATE（Automated Test Equipment，自动测试设备）、Prober（Wafer Prober，晶圆探针台）和Probe Card（探针卡）。

老化设备的选型精准度，直接决定测试数据的准确性、试验合规性以及产品质量管控水平。

半导体制造对温度控制精度要求极高，温度波动0.1℃就可能导致晶圆报废，对应的温控附属设备是保障制程良率的关键配套系统。

高低温冲击气流仪提供真实温度环境，成为国产算力芯片、光互联器件、算力服务器模组研发与量产验证的核心精密装备

成都中冷低温自主研发的TS580高低温冲击气流仪已成为电子元器件、汽车、光通讯等各个领域的理想测试工具。

HAST测试的核心优势的是“高效快速”，可在数小时至数十小时内完成等效常温数月至数年的使用风险模拟

中冷低温自研一体式气流仪是组合一体式高低温冲击气流仪，设备自带洁净无油气源系统，无需另外配置空压机;主机和洁净无油的气源模块可分离，满足实验室各类型灵活应用。

ThermoJet ES 是气流喷射式单点温度强制系统，不靠箱体整体降温，而是生成可控超低温 / 超高温纯净气流，精准喷射到单颗芯片 / 元器件表面，实现快速冷热切换、温度冲击、定点高低温控温，只给被测器件变温，不影响 PCB 周边其他元件。