双85试验是一种环境应力加速试验，通常在温度85℃、湿度85%RH的条件下进行。这种试验主要用于评估产品在高温高湿环境下的性能和稳定性。

通过使用SLT在仿真的终端环境中对待测芯片进行功能测试，设备制造商可以预防使用传统晶圆和封装测试技术难以检测到的漏检故障。

HAST测试是一种用于评估产品在高温、高湿以及高压条件下的可靠性和寿命的测试方法。

系统级测试（SLT）是指在仿真的终端使用场景中对待测芯片（DUT）进行测试。

芯片HAST测试是一种用于评估产品在高温、高湿以及高压条件下的可靠性和寿命的测试方法。

ZONGLEN 热流仪可兼容市面上各品牌光学检测设备，完成再电高低温环境下的光学性能测试，是光学检测设备必不可少的组成之一。

常见的非恒定应力谱和组合应力包括：步进应力试验；渐进应力试验； 高加速寿命试验（HALT）（设备级）；高加速应力筛选（HASS）（设备级）；高加速温度和湿度应力试验（HAST）（零件级）。

光模块作为光通信中的重要组成部分，是实现光信号传输过程中光电互相转换的光电子器件。光模块通常由光发射组件、光接收组件、激光器芯片、探测器芯片等部件组成。