功率器件在片测试难点及解决方案
每一颗功率芯片都要进行指标测试，每一张晶圆都要进行筛选测试。在片的筛选测试必须要具备的是晶圆自动化测试夹具，即自动化高压探针台，以及静态参数测试仪表。
2024-12-31 11:40:05
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Max TC测试时出现温度不稳定的原因有哪些？
Mechanical Devices开发生产并向主要半导体器件制造商提供创新的成本效益热控制单元，以测试IC器件。2024-12-16 13:52:54![]()
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