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关于集成电路IC芯片温度冲击测试机的使用须知
集成电路IC芯片温度冲击测试机相较于传统的测试箱而言,外形美观大方,结构紧凑,采用移动式设计,更换场地方便简易
2022-12-06 11:11:11
中冷高低温冲击气流仪TS系列对于芯片的重要性
高低温冲击气流仪广泛用于气车芯片ATE、FT测试,与此前的发放相比,可大大缩短测试时间。
2022-12-06 11:07:20
ThermoTST快速循环温度冲击系统的特点
ThermoTST快速循环温度冲击系统是一台精密气流温度循环冲击系统,具有更广泛的温度范围-90℃到+225℃
2022-12-06 11:03:22
晶圆测试和先进封装测试时的温度控制
晶圆测试是晶圆制造过程中必不可少的一部分。在早期的半导体制造中,每个芯片是在成型、切块、包装后进行测试的。
2022-12-06 11:00:47
半导体器件主要分类有哪些?
半导体器件按照其制造技术可分为分立器件半导体、光电半导体、逻辑IC、模拟IC、存储器等大类。
2022-12-06 10:58:52
SiC的器件为何需要进行额外可靠性试验?
SiC能作为功率器件原材料的原因之一是,它能够借用硅器件的许多著名概念和工艺技术。
2022-11-24 13:49:15
SiC器件技术的应用发展及可靠性测试
中冷低温科技研发的高低温冲击气流仪能够应用于特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验如:IGBT的试验也可以使用该气流仪。
2022-11-24 13:43:57
ATE在生产过程中的自动化测试中的作用
信号路由系统—在被测设备和测试仪器之间的路径上的一切信号,包括开关元器件和任何外部的连接器和线缆。
2022-11-24 13:40:12
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