绝缘电阻劣化(离子迁移CAF) 评估系统

产品详情

EM-HAST

绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。

特点:

高机能:采用高端驱动计测,测试时焊接工序大幅减少

软件设计简单明了,直观易操作

远程监控功能,可监控试验过程

便利性高:构造装着脱落式、易进行保养交换。可同时试验停止等联动装置功能,系统构成灵活

测试自检功能:点检、校正方便

设计精巧,不受场所限制,易移动

可靠性高:配有CF卡,以防设备故障数据丢失。以UPS作为系统的支撑,保证试验的安全继续进行。

 

应用:

PCB、焊料、助焊剂、涂层材料等,GBA、DSP等,IC封装、电容器、连接器等电子器件及材料绝缘材料吸湿特性测试评估。

 

技术规格:

产品型号 500V* 1000V
通道数 32通道/64通(可选)
工作时间 1~9999小时
偏置电压 -100~+500VDC -100~+1000VDC

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